Data licitatiei 12.05.2026

Expirat

Austria - Klosterneuburg: AFM - Atomic Force Microscope

Data licitatiei 12.05.2026

Expirat

Valoare estimata : 0

Tip anunt: UE

ID: 10784576

Data publicarii : 10.04.2026

Tara/Judet: AU

Descriere scurta:

Austria - Klosterneuburg: AFM - Atomic Force Microscope

Coduri CPV:

38511100-1 - Microscoape electronice cu scanare

Textul licitației

lă (cpv): 38511100 Microscoape electronice cu scanare2.1.2. Locul de executareAdresă poștală: Am Campus 1 Localitate: KlosterneuburgCod poștal: 3400Subdiviziunea țării (NUTS): Wiener Umland/Nordteil (AT126)Țara: Austria2.1.4. Informații generaleTemei juridic: Directiva 2014/24/UE2.1.6. Motive de excludereSursele motivelor de excludere: Document de achiziție5. Lot5.1. Lot: LOT-5664Titlu: AFM - Atomic Force MicroscopeDescriere: Kauf, Lieferung, Installation, Test- und Abnahme eines AFM - Atomic Force MicroscopeIdentificator intern: 15.1.1. ScopNatura contractului: ProduseClasificarea pr

Textul licitației

Licitatii recomandate

Franta: Achat d’un microscope électronique à balayage de table

Spania: Adquisición de un sistema de microscopia electrónica de barrido con microanálisis EDX y software para búsqueda automática de residuos de disparo de uso forense para laboratorio químico y toxicología CGPC.

Republica Ceha: Skenovací elektronový mikroskop s EDS analytickým systémem II.

Germania - Kaiserslautern: DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)

Norvegia - Oslo: Scanning electron microscope

Franta: ACQUISITION D'UN MICROSCOPE A BALAYAGE ELECTRONIQUE DE TABLE INTEGRANT UN DETECTEUR EDS

Spania: Suministro de microscopio electrónico de doble haz con detector EBSD y sistemas de nanolitografía electrónica (EBL) y de iones focalizados (FIB)

Portugalia - União das Freguesias de Glória e Vera Cruz: Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO  Instituto de Materiais de Aveiro

Germania - Itzehoe: CD-SEM Rasterelektronenmikroskop - PR1153351-2390-W

Republica Ceha: Skenovací elektronový mikroskop s EDS a EBSD a pokovovací stanice

Franta - Saint Etienne du Rouvray: Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Franta - Is-sur-Tille: Fourniture et installation d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB)

Suedia - Borås: Scanning Electron Microscope (SEM)

Franta: Microscope électronique à balayage environnemental avec canon à émission de champ (FEG-ESEM)

Austria - Klosterneuburg: AFM - Atomic Force Microscope

Spania: Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Grecia - ΑΘΗΝΑ: 38511100-1

Italia - FRASCATI (RM): Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati

Portugalia - União das Freguesias de Glória e Vera Cruz: Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro