Data licitatiei 13.05.2026

Expirat

Franta: Microscope électronique à balayage environnemental avec canon à émission de champ (FEG-ESEM)

Data licitatiei 13.05.2026

Expirat

Valoare estimata : 460,000 EUR

Tip anunt: UE

ID: 10791282

Data publicarii : 15.04.2026

Tara/Judet: FR

Descriere scurta:

Franta: Microscope électronique à balayage environnemental avec canon à émission de champ (FEG-ESEM)

Coduri CPV:

38511100-1 - Microscoape electronice cu scanare

Textul licitației

4-9306ac3054d9Identificator intern: CS2026-018Tip de procedură: DeschisăProcedura este accelerată: nuPrincipalele caracteristici ale procedurii: Appel d'offres ouvert (Article R2124-2 1° - Code de la commande publique). Montant avec une fourchette estimative entre 440 000 euros et 460 000 euros HT.2.1.1. ScopNatura contractului: ProduseClasificarea principală (cpv): 38511100 Microscoape electronice cu scanare2.1.2. Locul de executareSubdiviziunea țării (NUTS): Essonne (FR104)Țara: Franţa2.1.3. ValoareValoarea estimată fără TVA: 460 000,00 EUR2.1.4. Informații generaleAceastă procedură va fi relansatăTemei juridic: Directiva 2014/24/UE

Textul licitației

Licitatii recomandate

Franta: Achat d’un microscope électronique à balayage de table

Spania: Adquisición de un sistema de microscopia electrónica de barrido con microanálisis EDX y software para búsqueda automática de residuos de disparo de uso forense para laboratorio químico y toxicología CGPC.

Republica Ceha: Skenovací elektronový mikroskop s EDS analytickým systémem II.

Germania - Kaiserslautern: DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)

Norvegia - Oslo: Scanning electron microscope

Franta: ACQUISITION D'UN MICROSCOPE A BALAYAGE ELECTRONIQUE DE TABLE INTEGRANT UN DETECTEUR EDS

Spania: Suministro de microscopio electrónico de doble haz con detector EBSD y sistemas de nanolitografía electrónica (EBL) y de iones focalizados (FIB)

Portugalia - União das Freguesias de Glória e Vera Cruz: Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO  Instituto de Materiais de Aveiro

Germania - Itzehoe: CD-SEM Rasterelektronenmikroskop - PR1153351-2390-W

Republica Ceha: Skenovací elektronový mikroskop s EDS a EBSD a pokovovací stanice

Franta - Saint Etienne du Rouvray: Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Franta - Is-sur-Tille: Fourniture et installation d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB)

Suedia - Borås: Scanning Electron Microscope (SEM)

Franta: Microscope électronique à balayage environnemental avec canon à émission de champ (FEG-ESEM)

Austria - Klosterneuburg: AFM - Atomic Force Microscope

Spania: Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Grecia - ΑΘΗΝΑ: 38511100-1

Italia - FRASCATI (RM): Fornitura di un microscopio FIB/SEM presso il Laboratorio di Superconduttività del Dipartimento NUC del centro ENEA di Frascati

Portugalia - União das Freguesias de Glória e Vera Cruz: Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro