Textul licitației

tet den Forschern der FAU hochauflösende und nanoanalytische Techniken für die fortgeschrittene Materialcharakterisierung. Innerhalb des IMN wurde eine Forschungsgruppe für computergestützte Materialmikroskopie eingerichtet, deren Forschungsschwerpunkt auf computergestützten Mikroskopietechniken liegt, die durch vierdimensionale STEM (4D-STEM) ermöglicht werden. Für die Forschungsthemen in den Bereichen 1) skalenüberbrückende, multimodale atomar auflösende Tomographie, 2) atomar auflösendes Phasenkontrast-Imaging von strahlungsempfindlichen Materialien, 3) Methodenentwicklung für die Echtzeitverarbeitung von 4D-STEM-Datenströmen und 4) Methodenentwicklung für die Automatisierung von multimodalen 4D-STEM-Experimenten wird ein Präzessions-Elektronenbeugungssytsem benötigt, welches zwingend zu dem Fast-Framing-Direktelektronendetektor ARINA der Marke DECTRIS kompatibel sein