Textul licitației

ější generace pro spektrometrii ztrát energií elektronů a zobrazování s energiovou filtrací. Tato modernizace zásadně rozšíří analytické možnosti mikroskopu díky vysoké citlivosti a výkonnosti nového zařízení při měřeních EELS, EFTEM, difrakcí a 4D-STEM. Modernizace umožní studium materiálů vysoce náchylných vůči ozáření elektronovým svazkem a rychlých změn chemických a fyzikálních vlastností materiálů v nanorozměrech během in-situ experimentů. Speciální instrumentace zařízení umožní pokročilé zobrazování elektrických a magnetických polí s vysokým laterálním rozlišením v materiálech pro spintroniku na základě měření technikami 4D-STEM a elektronového dichroismu v EELS. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které jsou součástí zadávací