SISTEM DUAL MICROSCOPIE AFM-RAMAN, MICROSCOP SEM CU SISTEM EBL, SISTEM COMPLEX PENTRU MICRODIFRACTIE, SISTEM DE CARACTERIZARE SEM/STEM, SPECTROMETRU DE MASA, ELIPSOMETRU
Data licitatiei 30.01.2014
Expirat
1
1
| Valoare atribuita : 17,895,000
|
Tip anunt:
Atribuiri
|
ID: 849448
|
Data publicarii :
19.03.2015
|
Tara/Judet:
RO/Bucuresti |
|
Descriere scurta:
SISTEM DUAL MICROSCOPIE AFM-RAMAN, MICROSCOP SEM CU SISTEM EBL, SISTEM COMPLEX PENTRU MICRODIFRACTIE, SISTEM DE CARACTERIZARE SEM/STEM, SPECTROMETRU DE MASA, ELIPSOMETRU
Coduri CPV:
38433100-0 - Spectrometre de masă
38510000-3 - Microscoape
38519200-8 - Obiective de microscop
38530000-9 - Aparate de difracţie
39300000-5 - Diverse echipamente
|
Câștigătorii Licitației
Pentru a vizualiza câștigătorii trebuie să aveți cont și abonament.
Textul licitației
ltor autoritati contractante
Nu
Sectiunea II: OBIECTUL CONTRACTULUI
II.1) Descriere
II.1.1) Denumirea atribuita contractului de autoritatea contractanta
SISTEM DUAL MICROSCOPIE AFM-RAMAN, MICROSCOP SEM CU SISTEM EBL, SISTEM COMPLEX PENTRU MICRODIFRACTIE, SISTEM DE CARACTERIZARE SEM/STEM, SPECTROMETRU DE MASA, ELIPSOMETRU
II.1.2) Tipul contractului si locul de executare a lucrarilor, de furnizare a produselor sau de prestare a serviciilor
Furnizare
Cumparare
Locul principal de livrare: Universitatea Politehnica din Bucuresti Splaiul Independentei nr.313 Sector 6 Bucuresti
Codul NUTS: RO321 - Bucuresti
II.1.3) Anuntul implica
II.1.4) Descrierea succinta a contractului sau a achizitiei/achizitiilor
Lotul 1. Sistem de caracterizare SEM/STEM, Microscop SEM cu sistem EBL (E-Beam Lithography) Lotul 2. Sistem complex pentru mi