Spania: Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Data licitatiei 14.07.2025
Expirat
16
16
| Valoare estimata : 1,700,000 EUR
|
Tip anunt:
UE
|
ID: 9700295
|
Data publicarii :
11.06.2025
|
Tara/Judet:
SP |
|
Descriere scurta:
Spania: Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Coduri CPV:
38511100-1 - Microscoape electronice cu scanare
38636100-3 - Lasere
|
Textul licitației
croscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.Descriere: Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.Identificatorul procedurii: 77b5283e-3bed-4353-9eb0-b69d7e7afbb5Identificator intern: 33622/25Tip de procedură: DeschisăProcedura este accelerată: nu2.1.1. ScopNatura contractului: BunuriClasificarea principală (cpv): 38511100 Microscoape electronice cu scanareClasificare suplimentară