Germania: Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Data licitatiei 17.08.2026
au mai rămas 31 zile
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| Valoare estimata : -
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Tip anunt:
UE
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ID: 11166260
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Data publicarii :
17.07.2026
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Tara/Judet:
GE |
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Descriere scurta:
Germania: Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Coduri CPV:
38000000-5 - Echipamente de laborator, optice şi de precizie (cu excepţia ochelarilor)
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Textul licitației
Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los2.25-1707.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los2.25-1707.06.Wertungsmatrix".Identificatorul procedurii: b3e6743d-bfc2-4cac-a001-90b28790bddbIdentificator intern: 25-1696-1707Tip de procedură: DeschisăProcedura este accelerată: nu